铁基涂层测厚仪的校准方法

发表于:2026-1-1 10:35:24 4734
       铁基涂层测厚仪的校准方法
  校零
  1.将测量探头压在铁基上(或不带涂层的测 量体上),再轻按一下校零键ZERO进行校零。
  需要注意的是,在按ZERO键时,测量探头一定要压紧在铁基上,而且不要晃动。
  若按校零键ZERO时,探头未压紧在零板(基块)上,则是显示器清零,而不是校零。
  2.将测量探头提起1厘米以上,然后再将探头压放铁基上(或不带涂层的测量体上)观察铁基上的测量值;
  若测量值在0附近,说明校零成功,否则,应重新校零。
  校满度
  1.根据要测量的涂层厚度,选择适当的标准膜片,进行满度校准。
  2.先将标准膜片放在铁基上(或不带涂层的测量体上)。
  3.再将测量探头压在标准膜片上,测量值就显示在显示器上;
  若测量值与标准膜片不同,测量值可通过加I键或减1键来修正。
  修正时,测量探头应远离铁基或测量体少2厘米。
  4.为保证校满度的准确性,可通过多次测量同一标准膜片上同一点来验证。
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2026-3-22 10:11:07 回复