膜厚测试仪的测定方法

       膜厚测试仪的测定方法
　　膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。 台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
　　（1）探头的选择和安装方法：确认电源处于OFF状态，与测定对象的质地材质接触，安装LEP-J或LHP-J。 （2）调整：确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。 （3）测定：在探头的末端加一定的负荷，即使用[一点接触定压式]。抓住与测定部接近的部分，迅速在与测定面成垂直的角度按下。下述的测定，每次都要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。使用管状的东西连续测定平面时，如果采用探头适配器，可以更加稳定地进行测定。