奥林巴斯45MG超声波测厚仪配合单晶探头使用

       使用20 MHz延迟块探头测量薄塑料材料。用户使用单晶软件选项，olympus 45MG可以完成分辨率高达0.001毫米或0.0001英寸的极为**的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。奥林巴斯45MG超声波测厚仪配合单晶探头使用
　　奥林巴斯45MG超声波测厚仪配合单晶探头特点及应用，奥林巴斯45MG超声波测厚仪配合单晶探头使用